100 Mikron amorphes Silizium A-Si für verschiedene Bereiche wie DR und zerstörungsfreie Prüfung
3025DA-AG ist ein Leichtgewichtsdetektor auf Basis amorphen Siliziums ((a-Si), der für zerstörungsfreie Prüfungen geeignet ist.
Sensor
Rezeptortyp a-Si
Scintillator Gos / CsI:TI
Aktivfläche 300 x 254 mm
Auflösung 2560 x 3072
Pixel Pitch 100 μm
Stromversorgung und Batterie
Adapter in Wechselstrom 100-240V,50-60Hz
Adapter aus DC 24V,2.7A
Leistungsausfall < 20 W
Bildqualität
Beschränkung der Auflösung 3,5 LP/mm
Energiebereich 40-160 KV
Dynamischer Bereich ≥ 84 dB
Empfindlichkeit ≥ 0,54 LSB/nGy
Ghos < 1% 1. Bild
DQE 42% @(1 LP/mm)
28% @(2 LP/mm)
MTF 68% @(1 LP/mm)
38% @(2 LP/mm)
20% @ ((3 LP/mm)
Elektroelementen und Schnittstellen
A/D-Umwandlung 16 Bit
Datenoberfläche Gigabit Ethernet
Bildrate 1x1 5fps/2x2 15fps/3x3 25fps
Freie Ausführung der Belichtungskontrolle/SYNC-Erfassung
Mechanische
Abmessungen 384 × 460 × 14,8 mm
Gewicht 3,4 kg
Materialien Aluminium und Magnesiumlegierungen
Frontplatte aus Kohlenstofffaser
Umweltfragen
Temperatur 10-35°C (Betrieb); -10~50°C (Speicherung)
Luftfeuchtigkeit 30-70% RH (nicht kondensierend)
Eintrittsschutz IP51
