| Spektrometer | CCD-Spektrometer und PMT-Spektrometer |
|---|---|
| Analyse-Matrix | F.E., Al, Cu, Zn, Ni, Magnesium, Pb etc. |
| Optisches System | Para-Runge-Roland-Kreisvoll-spektralvakuumoptisches System |
| Wellenlängenbereich | 160~580nm |
| Zerreibenbrennweite | 401mm |
| Prüfungsparameter | Geschwindigkeit |
|---|---|
| Versuchsanlage | Geschwindigkeit: 0.1mm/s-199.9 mm/s (Effektivwert) |
| Genauigkeit | ±5% ± 2digits |
| Anzeige | 3 1/2 Stellen LCD |
| Stromversorgung | zwei Knopfzellen (LR44 oder SR44) |
| Beschichtendes Substrat | Metall, Nichtmetall |
|---|---|
| Zahl von beschichtenden Schichten | einlagige und mehrfache Schichten |
| Messbereich | 0.1~35μm (unter der Zustand der Gewährleistung von Genauigkeit, kann stärkere Beschichtung auch geme |
| Anzeigefehler | ≤±10% |
| Entschließung | Gold, dekoratives Chrom 0.01μm; andere überziehende Spezies 0.1μm |
| Impulsfrequenzfrequenz | 20 Hz bis 2000 Hz |
|---|---|
| Erfassungsbereich | 0-15000 mm bei Stahlgeschwindigkeit |
| Schallgeschwindigkeit | 1000 bis 20000 m/s |
| Arbeitsmethoden | Impulsecho, Dual und Thru-Transmission |
| Dynamikwerte | Mehr als 40 dB |
